PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類TECHNICAL ARTICLES
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日本NITTOSEIKO高阻電阻率計測量各種材料 MCP-HT800 Hiresta-UX 是一款測量電阻率的測量儀器,電阻率是材料的評估標(biāo)準(zhǔn)之一。 測量各種高阻材料的表面電阻率和體積電阻率對于生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量控制和研發(fā)非常有用。 輕松準(zhǔn)確地測量材料的表面電阻率和體積電阻率,用于抗靜電材料研發(fā)、生產(chǎn)線質(zhì)量控制或材料。
2024-06-25
經(jīng)銷商
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日本KYORITSU接地電阻計快速響應(yīng)高速測量 KYORITSU/日本共立 KEW 4105DLBT-H 搭載藍牙®,可進行數(shù)據(jù)傳輸業(yè)界最快的響應(yīng)速度,抗2秒的噪音!即使在輔助接地電阻較大環(huán)境中,也可以準(zhǔn)確地測量到25V接地電壓,且能夠一眼就判別接地電阻值的好壞的比較器功能AC/DC通過自動判別可測定至300V電壓測定實現(xiàn)10,000次連續(xù)測定,也對應(yīng)A~D種(3極法)的測定及簡易測定(2極法)
2024-06-24
經(jīng)銷商
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日本nissin-kikai近紅外光譜測量水分氯離子 IRS-N0917Q 二維傅立葉變換光譜成像 通過實現(xiàn)可持續(xù)的社會 以貢獻為目標(biāo) 比分散型等超一光譜力儀更 高感度·可獲取高分辨率的光譜數(shù)據(jù)。 比一般的傅立葉變換紅外分光度計(FTIR) 可同時獲取更廣泛的二維光譜數(shù)據(jù)。 不僅可以在實驗室中使用,也可以帶到現(xiàn)場使用。
2024-06-20
經(jīng)銷商
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日本nissin-kikai中紅外光譜分析儀測量系統(tǒng) IRS-T0812Q 二維傅立葉變換光譜成像 通過實現(xiàn)可持續(xù)的社會 以貢獻為目標(biāo) 比分散型等超一光譜力儀更 高感度·可獲取高分辨率的光譜數(shù)據(jù)。 比一般的傅立葉變換紅外分光度計(FTIR) 可同時獲取更廣泛的二維光譜數(shù)據(jù)。 不僅可以在實驗室中使用,也可以帶到現(xiàn)場使用。
2024-06-20
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日本理研rikenkeiki測量裝置有機電子材料用FAC-2介紹: 專用于光刻樣品的開爾文探針 輕松設(shè)置樣品,無需微調(diào)電極和樣品之間的距離 可在大氣中測量半導(dǎo)體樣品的費米能級 由于測量時間短,因此非常適合測量隨時間變化的情況,例如成膜或表面處理后金屬表面的變化
2024-06-12
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日本rikenkeiki光學(xué)測量儀用于半導(dǎo)體材料等 AC-5/AC-3 能夠使用平板開放式計數(shù)器對高達 4000 cps 的光電子進行計數(shù) 能夠安裝尺寸達 180 x 180 毫米的大型樣品 任何位置都可以通過點測量進行測量。 使用樣品更換器 (*) 可自動測量多達 25 個板狀或粉末狀樣品。 通過使用Xe(氙)燈(*),可以高靈敏度地測量不易產(chǎn)生電子的
2024-06-20
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日本Riken Keiki高輸出光學(xué)系統(tǒng)高精度測量 AC-2S Pro α/AC-2S Pro β 配備超過2μW的高光輸出光學(xué)系統(tǒng) 配備可測量2eV以上的低能量照射光學(xué)系統(tǒng) 高溫測量可達100℃ 膜厚測量 以 0.01eV 步長進行精確測量 配備高要求的多點測量和重復(fù)測量功能。 讀取AC-2、3、5數(shù)據(jù)后即可進行分析
2024-06-20
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日本keycom磁性材料磁導(dǎo)率測量系統(tǒng)范圍寬廣 PER01 1. 無縫和廣泛的帶寬覆蓋 KEYCOM可以提供測量系統(tǒng),帶寬無縫覆蓋從100kHz到30GHz。 2. 可測量的價值 此系統(tǒng)可在寬頻帶內(nèi)測量磁性材料的復(fù)合磁導(dǎo)率μr'-jμr“(其中,我們可提供20~30GHz的測量服務(wù)),半寬度ΔH,鐵磁共振松弛系數(shù)α(100MHz~10GHz)。
2024-06-05
經(jīng)銷商
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