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PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
日本理研rikenkeiki測量裝置有機(jī)電子材料用FAC-2介紹：專用于光刻樣品的開爾文探針輕松設(shè)置樣品，無需微調(diào)電極和樣品之間的距離可在大氣中測量半導(dǎo)體樣品的費(fèi)米能級(jí)由于測量時(shí)間短，因此非常適合測量隨時(shí)間變化的情況，例如成膜或表面處理后金屬表面的變化
產(chǎn)品型號(hào)：FAC-2廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2024-10-11訪 問 量：210
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日本理研rikenkeiki測量裝置有機(jī)電子材料用FAC-2特點(diǎn)介紹：
專用于光刻樣品的開爾文探針
輕松設(shè)置樣品，無需微調(diào)電極和樣品之間的距離
可在大氣中測量半導(dǎo)體樣品的費(fèi)米能級(jí)
由于測量時(shí)間短，因此非常適合測量隨時(shí)間變化的情況，例如成膜或表面處理后金屬表面的變化
日本理研rikenkeiki測量裝置有機(jī)電子材料用FAC-2規(guī)格參數(shù)：
有機(jī)電子材料的費(fèi)米能級(jí)測量
金屬和導(dǎo)電薄膜功函數(shù)的測量
有機(jī)EL和復(fù)制感光材料的電離勢測量
硬盤和磁帶摩擦學(xué)研究
半導(dǎo)體和引線框架表面氧化態(tài)的測量
精密電子材料中分子級(jí)薄膜污染檢測
產(chǎn)品分類：開爾文探針
模型：FAC-2
測量原理：開爾文法
測量零件尺寸：Φ10mm
測量能量范圍：3.4至6.2eV（使用功函數(shù)為5.0eV的參考樣品進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)）
測量時(shí)間：10秒或更短（如果樣品是金屬）
重復(fù)性（標(biāo)準(zhǔn)差）：功函數(shù)0.02eV（樣品：金板）
溫濕度范圍：溫度范圍15-35℃，濕度20-60%RH
電源：AC100V，50/60Hz 5A（最大）
外形尺寸：約235（寬）×330毫米（高）×408（深）毫米
重量：約12公斤
郵箱：akiyama_zhou@163.com
傳真：
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