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英國IDB Systems接地傳導(dǎo)電壓測(cè)試儀監(jiān)測(cè)器 ID-471A / ID-471B ID-471A 接地傳導(dǎo)監(jiān)測(cè)器是篩查人員和確定其導(dǎo)電鞋的有效性所必需的設(shè)備。 測(cè)試器可提供多種配置，臨界電阻設(shè)置為 1000MΩ (109) 或 100MΩ (108)。 ID-471B 接地傳導(dǎo)測(cè)試儀為 ID-471A 提供了附加功能，包括模擬儀表和 5MΩ 下限故障點(diǎn)測(cè)試。

日本NPC手動(dòng)型電阻率測(cè)試裝置用于多種材料 sigma-5+ 它可以精確測(cè)量硅片等的電阻率，還有用于太陽能電池的硅的便攜式探頭。 這是一款高精度電阻率測(cè)量?jī)x器，采用20多年電阻率測(cè)量相關(guān)的專業(yè)知識(shí)和技術(shù)設(shè)計(jì)和開發(fā)。 可以在半導(dǎo)體基板和導(dǎo)電薄膜基板的研發(fā)/檢查過程或生產(chǎn)線中高精度地確定和評(píng)估薄層電阻值和體積電阻值。

日本NPC手持式非接觸式面電阻測(cè)試儀高精度 sigma-5+ 探頭接觸樣品即自動(dòng)開始測(cè)量 可通過JOG旋鈕快速設(shè)定測(cè)量條件 5種測(cè)量范圍探頭可根據(jù)樣品電阻率進(jìn)行更換 可選配P/N型判定量測(cè)功能 應(yīng)用：硅片樣品， 化合物半導(dǎo)體， 外延層， 擴(kuò)散層， 碳化硅， 薄膜材料， 金屬膜， ITO, IZO, Low-E玻璃, LED/OLED等材料

日本NPC電阻率測(cè)試儀測(cè)量?jī)x器高精度多功能 sigma-5+ 這是一款手動(dòng)型測(cè)量?jī)x器，采用四探針法，可輕松準(zhǔn)確地測(cè)量太陽能電池用硅片、液晶基板、金屬薄膜等的方塊電阻或體積電阻。它支持從低電阻到高電阻的各種測(cè)量。 1) 用于硅錠制造→晶圓制造工序（成膜等各工序）的產(chǎn)品檢查　 2) 液晶面板（LCD基板）制造：成膜時(shí)的產(chǎn)品檢查 3) 用于各種導(dǎo)電材料制造過程中的產(chǎn)品檢驗(yàn)

日本nippa電纜測(cè)試儀線纜/線束檢查高效率 NCT-100 支持線纜/線束檢查，操作簡(jiǎn)單支持瞬時(shí)中斷檢查和連續(xù)性檢查

日本morita無線電切斷手持式屏蔽箱測(cè)試儀 WM1019-04178H 該款屏蔽箱為手入式屏蔽箱，具有80dB的良好屏蔽特性，即使將諸如手機(jī)、智能手機(jī)和平板的無線通信設(shè)備置于強(qiáng)電場(chǎng)的環(huán)境中，也可使設(shè)備達(dá)到【無信號(hào)】的狀態(tài)。適合被應(yīng)用在移動(dòng)設(shè)備取證和智能手機(jī)取證等用途上。因內(nèi)部可安裝夾具和天線等部件，所以也可完成OTA測(cè)試試驗(yàn)。

日本morita移動(dòng)設(shè)備測(cè)試屏蔽箱無線模塊測(cè)量 WM-1019-0453H 手入式屏蔽箱可容納移動(dòng)通信終端和具有通信功能的游戲機(jī)等設(shè)備，并空手即可對(duì)他們進(jìn)行測(cè)試，屏蔽箱內(nèi)部也可以安裝希望的夾具。因?yàn)榘惭b有透明的目視用窗口，可以在查看內(nèi)部機(jī)械的同時(shí)進(jìn)行相關(guān)操作。

德國inglas紅外熱發(fā)射率測(cè)定儀熱輻射率儀 TIR100 TIR 100-2 型號(hào)是一種緊湊型手持式分析儀器，它采用非破壞性技術(shù)，可在幾秒鐘內(nèi)測(cè)量熱發(fā)射率。該設(shè)備可用于從低到高發(fā)射率、從光滑到紋理表面的各種材料。