PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類TECHNICAL ARTICLES
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日本NPC手動(dòng)型電阻率測(cè)試裝置用于多種材料 sigma-5+它可以精確測(cè)量硅片等的電阻率,還有用于太陽(yáng)能電池的硅的便攜式探頭。這是一款高精度電阻率測(cè)量?jī)x器,采用20多年電阻率測(cè)量相關(guān)的專業(yè)知識(shí)和技術(shù)設(shè)計(jì)和開發(fā)。可以在半導(dǎo)體基板和導(dǎo)電薄膜基板的研發(fā)/檢查過程或生產(chǎn)線中高精度地確定和評(píng)估薄層電阻值和體積電阻值。
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日本NPC手動(dòng)型電阻率測(cè)試裝置用于多種材料 sigma-5+ 特點(diǎn)介紹
它可以精確測(cè)量硅片等的電阻率,還有用于太陽(yáng)能電池的硅的便攜式探頭。
這是一款高精度電阻率測(cè)量?jī)x器,采用20多年電阻率測(cè)量相關(guān)的專業(yè)知識(shí)和技術(shù)設(shè)計(jì)和開發(fā)。
可以在半導(dǎo)體基板和導(dǎo)電薄膜基板的研發(fā)/檢查過程或生產(chǎn)線中高精度地確定和評(píng)估薄層電阻值和體積電阻值。
日本NPC手動(dòng)型電阻率測(cè)試裝置用于多種材料 sigma-5+ 規(guī)格參數(shù)
探頭接觸樣品即自動(dòng)開始測(cè)量
可通過JOG旋鈕快速設(shè)定測(cè)量條件
5種測(cè)量范圍探頭可根據(jù)樣品電阻率進(jìn)行更換
可選配P/N型判定量測(cè)功能
應(yīng)用:硅片樣品, 化合物半導(dǎo)體, 外延層, 擴(kuò)散層, 碳化硅, 薄膜材料, 金屬膜, ITO, IZO, Low-E玻璃, LED/OLED等材料
這是一款手動(dòng)型測(cè)量?jī)x器,采用四探針法,可輕松準(zhǔn)確地測(cè)量太陽(yáng)能電池用硅片、液晶基板、金屬薄膜等的方塊電阻或體積電阻。它支持從低電阻到高電阻的各種測(cè)量。
1) 用于硅錠制造→晶圓制造工序(成膜等各工序)的產(chǎn)品檢查
2) 液晶面板(LCD基板)制造:成膜時(shí)的產(chǎn)品檢查
3) 用于各種導(dǎo)電材料制造過程中的產(chǎn)品檢驗(yàn)
可以使用本公司另外配置的“4點(diǎn)探頭"進(jìn)行測(cè)量。
郵箱:akiyama_zhou@163.com
傳真:
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