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日本oji-keisoku超高相位差雙折射測(cè)量裝置 PAM-UHR100本裝置以透明試樣為對(duì)象,通過(guò)平行尼可光譜法測(cè)定數(shù)千至2萬(wàn)nm左右的相位差及取向角。通過(guò)輸入薄膜厚度,自動(dòng)計(jì)算雙折射N。
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日本oji-keisoku超高相位差雙折射測(cè)量裝置 PAM-UHR100 特點(diǎn)介紹
本裝置以透明試樣為對(duì)象,通過(guò)平行尼可光譜法測(cè)定數(shù)千至2萬(wàn)nm左右的相位差及取向角。通過(guò)輸入薄膜厚度,自動(dòng)計(jì)算雙折射N。
■特點(diǎn)
測(cè)定方式
平行尼科耳分光
樣品尺寸
□40mm、厚度3mm以下
測(cè)定項(xiàng)目
相位差、取向角、雙折射
日本oji-keisoku超高相位差雙折射測(cè)量裝置 PAM-UHR100 規(guī)格參數(shù)
規(guī)格內(nèi)容測(cè)定對(duì)象透明拉伸膜(PC,PET等)測(cè)定項(xiàng)目相位差、取向角、雙折射(相位差范圍約800~20000nm)試樣尺寸□40mm厚度3mm以下系統(tǒng)結(jié)構(gòu)測(cè)定裝置主體、筆記本電腦(OS:Windows7/Vista/XP)溫濕度條件10~35°C、20~80%RH(但不結(jié)露)電源AC100V±10%、50/60Hz
偏光軸方位、配向角、位相差
測(cè)定対象
光學(xué)薄膜、偏振板
測(cè)定原理
旋轉(zhuǎn)檢光子法、平行二卷旋轉(zhuǎn)法、正交二卷旋轉(zhuǎn)方法
測(cè)定時(shí)間
約4秒(偏振軸測(cè)量)
測(cè)定波長(zhǎng)
590nm(可選=450nm、630nm等)
樣品尺寸
30mm~250mm,t=20mm以下
系統(tǒng)配置
測(cè)定裝置主體、光源裝置、筆記本電腦(Windows10)
主體尺寸
W380XH390 XD610 mm
本體重量
27kg
郵箱:akiyama_zhou@163.com
傳真:
地址:廣東省深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路8號(hào)和健云谷2棟10層1002