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日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差 PAM-PR300對光學(xué)薄膜偏振軸方位、取向角及相位差值進(jìn)行測定無需個人差異,可簡便且短時間內(nèi)測量
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日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差 PAM-PR300 特點介紹
對光學(xué)薄膜偏振軸方位、取向角及相位差值進(jìn)行測定
無需個人差異,可簡便且短時間內(nèi)測量
■特點
測定方式
旋轉(zhuǎn)偏光鏡方式
平行尼科耳旋轉(zhuǎn)方式
交叉尼科耳旋轉(zhuǎn)方式
測定波長
590nm
選項:450nm、550nm、630nm
樣品尺寸
□ 30~250mm
厚度20mm以下
測定面積
33mm2(5.8mm見方:感光體面)
測定項目
偏光 軸向方位、方位角、相位差
日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差 PAM-PR300 規(guī)格參數(shù)
測定項目
偏光軸方位、配向角、位相差
測定対象
光學(xué)薄膜、偏振板
測定原理
旋轉(zhuǎn)檢光子法、平行二卷旋轉(zhuǎn)法、正交二卷旋轉(zhuǎn)方法
測定時間
約4秒(偏振軸測量)
測定波長
590nm(可選=450nm、630nm等)
樣品尺寸
30mm~250mm,t=20mm以下
系統(tǒng)配置
測定裝置主體、光源裝置、筆記本電腦(Windows10)
主體尺寸
W380XH390 XD610 mm
本體重量
27kg
偏振軸方位測定相位差測定方式旋轉(zhuǎn)檢光子法平行尼可旋轉(zhuǎn)法測定項目吸收軸方位或透過軸方位相位差值、取向角構(gòu)成角度分辨率0.001°0.0 01°角度精度(3σ)0.006°0.017°相位差分辨率N/A 0.01nm相位差精度(3σ)N/A 0.03nm光(LED)固定試樣臺檢光子A
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傳真:
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