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產(chǎn)品分類(lèi)TECHNICAL ARTICLES
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日本bluevision鹵素?zé)艄庠礄z測(cè)異物污染劃痕 BVM1022D/BVM1021D 可變波長(zhǎng)光源是一種以鹵素?zé)魹橹鞴庠?，通過(guò)選擇輸出波長(zhǎng)即可發(fā)光的新型光源。本產(chǎn)品使用LVF（線性可變?yōu)V光片）進(jìn)行波長(zhǎng)選擇。
2024-06-29
經(jīng)銷(xiāo)商
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山田光學(xué)YAMADA半導(dǎo)體用鹵素光源照明裝置 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-06-20
經(jīng)銷(xiāo)商
322
YAMADA高亮度鹵素光源用于檢測(cè)各種缺陷照明 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-06-20
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179
YAMADA鹵素光源照明設(shè)備高強(qiáng)度檢查燈進(jìn)口 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-06-20
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136
日本進(jìn)口yamada鹵素?zé)艄庠囱b置精密檢測(cè) YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工途中 人工懸掛最終成品表面的異物、劃痕、研磨不均、霧、滑動(dòng)等 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置。
2024-06-20
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158
日本YAMADA高輝度檢查燈鹵素光源裝置進(jìn)口 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工途中 人工懸掛最終成品表面的異物、劃痕、研磨不均、霧、滑動(dòng)等 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置。
2024-06-20
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山田光學(xué)yamada半導(dǎo)體芯片加工光源裝置照明 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-06-20
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YAMADA山田光學(xué)鹵素光源裝置檢查燈高亮度 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-06-20
經(jīng)銷(xiāo)商
141
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