PRODUCT CLASSIFICATION
產品分類日本napson非接觸渦流法電阻率測試儀手動式 EC-80非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀
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日本napson非接觸渦流法電阻率測試儀手動式 EC-80 特點介紹
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀
一種簡單的測量裝置,只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。
在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換
使用 JOG 旋鈕輕松設置測量條件
測量目標
半導體能電池材料相關(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料相關(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
導電薄膜相關(金屬、ITO等)
化合物半導體相關(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
日本napson非接觸渦流法電阻率測試儀手動式 EC-80 規(guī)格參數
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀
一種簡單的測量裝置,只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。
在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換
使用 JOG 旋鈕輕松設置測量條件
測量目標
半導體能電池材料相關(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料相關(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
導電薄膜相關(金屬、ITO等)
化合物半導體相關(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀
一種簡單的測量裝置,只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。
在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換