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產(chǎn)品分類TECHNICAL ARTICLES
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日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器 MF-5550-0002/MF-5570-0002該設(shè)備非常適合評(píng)估和檢查智能手機(jī)和其他設(shè)備中安裝的具有鏡頭移位圖像穩(wěn)定 (OIS) 的相機(jī)模塊執(zhí)行器。通過使用專用目標(biāo),可以高精度、高速地同時(shí)測量五個(gè)項(xiàng)目:目標(biāo)物體的傾斜(θX、θY)、位移(Z)和位置(X、Y)。
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日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器 MF-5550-0002/MF-5570-0002 特點(diǎn)介紹
該設(shè)備非常適合評(píng)估和檢查智能手機(jī)和其他設(shè)備中安裝的具有鏡頭移位圖像穩(wěn)定 (OIS) 的相機(jī)模塊執(zhí)行器。
通過使用專用目標(biāo),可以高精度、高速地同時(shí)測量五個(gè)項(xiàng)目:目標(biāo)物體的傾斜(θX、θY)、位移(Z)和位置(X、Y)。
除了使用激光進(jìn)行自準(zhǔn)直儀角度測量之外,還可以同時(shí)測量位移(X、Y、Z)和旋轉(zhuǎn)角度的測量儀器。
隆重推出可實(shí)時(shí)捕捉一切的創(chuàng)新產(chǎn)品。這些創(chuàng)新產(chǎn)品將您的測量概念提升到一個(gè)新的水平。
此外,我們還將介紹一種利用干涉的鏡頭波前像差測量裝置。
日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器 MF-5550-0002/MF-5570-0002 規(guī)格參數(shù)
MF-5550-0002
主要規(guī)格
測量范圍
傾斜 (θX-θY):±60 分鐘(圓形范圍)
位移 (Z):±1mm
位置 (XY):±0.5mm
工作距離:80±0.5mm
輸出更新率:10,000次/秒
MF-5570-0002
測量范圍
傾斜 (θX-θY):±60 分鐘(圓形范圍)
位移 (Z):±1mm
位置 (XY):±0.7mm
工作距離:80±0.5mm
輸出更新率:10,000次/秒
郵箱:akiyama_zhou@163.com
傳真:
地址:廣東省深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路8號(hào)和健云谷2棟10層1002