PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類TECHNICAL ARTICLES
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日本NCC小型清潔檢查燈可視化灰塵、劃痕等 Quantum 用小但高度直射的光“可視化”灰塵、異物和劃痕! 檢查燈“Quantum”,現(xiàn)場管理人員的必需品
2024-07-13
經(jīng)銷商
58
日本NCC可視化目視清潔檢查燈設(shè)備檢測灰塵 ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作場所的清潔檢查燈,旨在實(shí)現(xiàn) 0% 的缺陷率。
2024-07-13
經(jīng)銷商
83
日本NCC手持式目視檢查燈檢測異物漂浮狀態(tài) ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作場所的清潔檢查燈,旨在實(shí)現(xiàn) 0% 的缺陷率。
2024-07-12
經(jīng)銷商
85
日本進(jìn)口NCC顆粒/灰塵高精度目視清潔檢查燈 ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作場所的清潔檢查燈,旨在實(shí)現(xiàn) 0% 的缺陷率。
2024-07-12
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84
日本katsura全視場波前像差測量裝置全自動(dòng) AW-1000 這是一種可以全自動(dòng)測量鏡頭光軸上和離軸波前像差的設(shè)備。
2024-07-12
經(jīng)銷商
101
日本katsura自準(zhǔn)直儀角度高精度測量裝置 MS-2000 該設(shè)備非常適合評(píng)估和檢查智能手機(jī)和其他設(shè)備中安裝的具有傳感器移位圖像穩(wěn)定功能的相機(jī)模塊執(zhí)行器。 通過使用特殊的專用目標(biāo),可以高精度地同時(shí)測量目標(biāo)物體的六項(xiàng):傾斜(θX,θY)、位移(Z)、位置(X,Y)和旋轉(zhuǎn)(θ)。
2024-07-12
經(jīng)銷商
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nisshooptical狹縫圖像觀察深度高度測量機(jī) AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置,結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動(dòng)對(duì)焦)跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動(dòng)對(duì)焦驅(qū)動(dòng)可實(shí)現(xiàn)快速、易于使用的測量,并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺(tái)階形狀的同時(shí)進(jìn)行測量,因此可以實(shí)時(shí)識(shí)別測量屏幕上的高度,從而輕松確定需要測量的區(qū)域。
2024-07-10
經(jīng)銷商
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nisshooptical鹵素光源目視檢查測量儀日本 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置,結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動(dòng)對(duì)焦)跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動(dòng)對(duì)焦驅(qū)動(dòng)可實(shí)現(xiàn)快速、易于使用的測量,并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺(tái)階形狀的同時(shí)進(jìn)行測量,因此可以實(shí)時(shí)識(shí)別測量屏幕上的高度,從而輕松確定需要測量的區(qū)域。
2024-07-10
經(jīng)銷商
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