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產(chǎn)品分類TECHNICAL ARTICLES
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日本bluevision鹵素?zé)艄庠礄z測(cè)異物污染劃痕 BVM1022D/BVM1021D 可變波長(zhǎng)光源是一種以鹵素?zé)魹橹鞴庠?，通過選擇輸出波長(zhǎng)即可發(fā)光的新型光源。本產(chǎn)品使用LVF（線性可變?yōu)V光片）進(jìn)行波長(zhǎng)選擇。
2024-06-29
經(jīng)銷商
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Adwill-Global全自動(dòng)紫外線照射機(jī)高性能 RAD-2010F/12 設(shè)計(jì)緊湊且高效率 上料平臺(tái)&下料平臺(tái)一體化，適用于300mm、200mm晶圓。一體化可實(shí)現(xiàn)設(shè)備尺寸的緊湊化，通過設(shè)計(jì)兩條工作線路實(shí)現(xiàn)高產(chǎn)能。
2024-06-27
經(jīng)銷商
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日本KYORITSU照度計(jì)高精度測(cè)量高性能進(jìn)口 KYORITSU/日本共立 KEW 5204 / 5204BT ?配備Bluetooth®通信功能 ?兼容KEW Smart Advanced ?符合JIS C 1609-1:2006通用標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)字照度計(jì) ?測(cè)量范圍寬廣，從0.1到199900 lx ?配備自動(dòng)調(diào)零功能，可實(shí)現(xiàn)高精度照度能夠測(cè)量 - 能夠測(cè)量 LED 照度
2024-06-24
經(jīng)銷商
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日本techvision UV照射裝置固化系統(tǒng)LED燈源 UVC-200A/300A 這種UV固化系統(tǒng)便于UV曝光后剝離UV膠帶。膠帶是用于研削中的表面保護(hù)和晶片處理工序中膠帶的切割的UV膠帶。 UV-LED固化系統(tǒng)使用波長(zhǎng)為365納米的LED（發(fā)光二極管）光源進(jìn)行UV曝光。LED提供了許多性能優(yōu)勢(shì)。
2024-06-21
經(jīng)銷商
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山田光學(xué)YAMADA半導(dǎo)體用鹵素光源照明裝置 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-06-20
經(jīng)銷商
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YAMADA高亮度鹵素光源用于檢測(cè)各種缺陷照明 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-06-20
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YAMADA鹵素光源照明設(shè)備高強(qiáng)度檢查燈進(jìn)口 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2024-06-20
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日本進(jìn)口yamada鹵素?zé)艄庠囱b置精密檢測(cè) YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工途中 人工懸掛最終成品表面的異物、劃痕、研磨不均、霧、滑動(dòng)等 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置。
2024-06-20
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